主要特點:
1. 業界首創結合毫米-微米-奈米量測，結合金相顯微鏡的AFM
2. 操作直覺，快速上手---從開機到開始掃描不到5分鐘
3. 最高性價比---市售他牌1/2價格不到
4. 垂直光路設計，配合氣液兩用型探針架可同時在空氣或液體中使用
5. 高倍光學定位系統，實現探針和樣品掃描區域精確定位
目的:
提供固態與液態三維表面形態影像，包括表面粗糙度、粒徑大小、高度差和間距
品牌: FSM
型號: OP-AFM
產品介紹
液態量測AFM
概觀
產品特點:
1. 同時兼具光學和原子力顯微鏡成像功能，同時可同時掃描成像，互不影響；
2. 同時兼有光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能；
3. 採用了垂直光路設計，配合氣液兩用型探針架可同時在空氣或液體中使用；
4. 利用了高倍光學定位系統，實現探針和樣品掃描區域精確定位；
5. 簡易的雷射校準，可通過光學CCD窗口即時觀察及調節雷射光班；
6. 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，準確定位掃描區域，使針尖垂直於樣品掃描；
7. 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；
8. 需配備氣浮式防震台（選購），抗干擾能力強，不影響儀器使用操作；
9. 整合掃描器硬體非線性校正用戶編輯器，奈米特徵表現和測量精度高達98％。
技術規格
規格
◆原子力工作模式：接觸，輕敲，F-Z力曲線測量，RMS-Z曲線測量，摩擦力/側向力，振幅/相位差，磁力和靜電力，可選配液體模式
◆原子力掃描範圍：XY向20um，Z向2um（可選配XY向50um，Z向5um）
◆樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
◆掃描分辨率：XY向0.2nm，Z向0.05nm
◆樣品移動範圍：0〜20mm
◆光學物鏡：5X，10X，20X，50X平場复消色差
◆光學目鏡：10X
◆CCD傳感器：300萬像素
◆顯示屏：11.6寸平板顯示器，帶測量功能
◆光學調焦方式：電動調焦
◆掃描速度0.6Hz〜4.34Hz，掃描角度0〜360°
◆掃描控制：XY採用18位D / A，Z採用16位D / A
◆數據採樣：14位A / D，雙16位A / D
◆反饋方式：DSP數字反饋
◆反饋採樣速率：64.0KHz
◆通信接口：USB2.0 / 3.0
◆運行環境：WindowsXP / 7/8/10操作系統