產品介紹

美國NANOVEA公司推出多款研究型的三維表面形貌測量設備，採用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從奈米到毫米尺度的體積進行測試，具有測量精度高，速度快，重複性好的優點。該儀器性價比高，可用於取代傳統的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。

產品特點:
1. 採用白光共聚焦色差技術，獲得奈米級解析度
2. 非接觸量測，不破壞樣品
3. 測量速度快，精度高
4. 寬測量範圍: 透明，金屬材料，半透明，高漫反射，低反射率，拋光，粗糙材料（金屬，玻璃，木材，合成材料，光學材料，塑料，塗料，油漆，漆，紙，皮膚，頭髮，牙齒...）;
5. 特別適用於測量高斜率和高曲折度的材料的表面
6. 不受環境光的影響
7. 測量簡單，樣品無特殊處理
8. Z方向的大測量範圍：27mm

AFFORDABLE INVESTMENT

All testing capabilities.
In a uniquely compact set-up.
At an affordable price.
    SIMPLE DESIGN    

SOPHISTICATED INSTRUMENT

Roughness 

Texture

Geometry

Step height & Thickness

產品說明:

點選可直接查看

PS50 (Compact)
​JR25 (Portable)
ST400 (Standard)

如對此設備有何技術上之問題或委測需求，歡迎來電: 02-2793-3133 或MAIL至 david.chang@utekmaterial.com

我們將為您提供最即時的諮詢與技術服務。