主要特點:
1. 輕鬆、快速取得奈米表面特徵
2. 操作直覺，快速上手
3. 全球最小且效能強悍
4. 最經濟實惠最好入手的奈米量測利器
5. 台灣設計製造，在地服務，品質保證。
目的:
提供三維表面形態影像，包括表面粗糙度、粒徑大小、高度差和間距
型號: CrabiAFM-E(入門型), CrabiAFM-A(教育型)
產品介紹
掌上型/入門AFM
概觀
想在有限的實驗室空間、與有限的預算中找到一台專屬於自己的奈米量測設備，
原來可以這麼簡單!
全球最輕巧、掌上型AFM，提供物理教育、基礎奈米研究一個嶄新的選擇!
強悍的效能，精緻扎實的結構設計，也是科技與藝術的結合，
即將掀起奈米量測普及化的巨大革命!
機台側視圖，上掀蓋輕鬆更換樣品
快速拆裝探針座設計
機構設計
技術規格
測試結果:
TGQ1 標準樣品
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標準樣品 |
奈米顆粒 |
實驗及教學狀況
規格表
如對此AFM有何技術上之問題或委測需求，歡迎來電: 02-2793-3133 或MAIL至 david.chang@utekmaterial.com
我們將為您提供最即時的諮詢與技術服務。